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產(chǎn)品名稱:軟磁材料直流磁性能測(cè)量裝置
產(chǎn)品型號(hào):FE-2100SD

FE-2100SD軟磁材料直流磁性能測(cè)量裝置,自動(dòng)測(cè)量軟磁材料在靜態(tài)(直流)條件下的基本磁化曲線和磁滯回線,準(zhǔn)確測(cè)量起始磁導(dǎo)率μi、*大磁導(dǎo)率μm、飽和磁感應(yīng)強(qiáng)度Bs、剩磁Br、矯頑力Hc和磁滯損耗Pu等靜態(tài)磁特性參數(shù)。產(chǎn)品符合GB/T13012、IEC60404-4以及GJB 937-1990的規(guī)定。 FE-2100SD軟磁材料直流磁性能測(cè)量裝置測(cè)試系統(tǒng)依照沖擊法的測(cè)量原理,采用計(jì)算機(jī)控制技術(shù)和A/D、D/A相結(jié)合,以電子積分器取代傳統(tǒng)沖擊檢流計(jì),實(shí)現(xiàn)在微機(jī)控制下的模擬沖擊法測(cè)量磁化曲線和磁滯回線,獲得國家發(fā)明磚利,完全消除經(jīng)典沖擊法中因使用沖擊檢流計(jì)所帶來的非瞬時(shí)性誤差,保證了測(cè)試參數(shù)的重復(fù)性和唯*性。

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一、FE-2100SD軟磁材料直流磁性能測(cè)量裝置功能簡(jiǎn)介:

FE-2010SD軟磁材料直流測(cè)量系統(tǒng),自動(dòng)測(cè)量軟磁材料在靜態(tài)(直流)條件下的基本磁化曲線和磁滯回線,準(zhǔn)確測(cè)量起始磁導(dǎo)率μi、*大磁導(dǎo)率μm、飽和磁感應(yīng)強(qiáng)度Bs、剩磁Br、矯頑力Hc和磁滯損耗Pu等靜態(tài)磁特性參數(shù)。產(chǎn)品符合GB/T13012、IEC60404-4以及GJB 937-1990的規(guī)定。

測(cè)試系統(tǒng)依照沖擊法的測(cè)量原理,采用計(jì)算機(jī)控制技術(shù)和A/D、D/A相結(jié)合,以電子積分器取代傳統(tǒng)沖擊檢流計(jì),實(shí)現(xiàn)在微機(jī)控制下的模擬沖擊法測(cè)量磁化曲線和磁滯回線獲得國家發(fā)明磚利,完全消除經(jīng)典沖擊法中因使用沖擊檢流計(jì)所帶來的非瞬時(shí)性誤差,保證了測(cè)試參數(shù)的重復(fù)性和唯*性。

 

二、FE-2100SD軟磁材料直流磁性能測(cè)量裝置技術(shù)指標(biāo):

主要參數(shù)不確定度/重復(fù)性(按IEC60404-4標(biāo)準(zhǔn)對(duì)環(huán)形樣品試樣測(cè)量)

測(cè)試參數(shù)

Bs (%)

Br (%)

Hc (%)

μ m (%)

μ i (%)

不確定度(k = 2)

1 .0

1 .0

1.5

2.0

5.0

重復(fù)性(恒溫)

± 0.3

± 0.3

± 0.3

±0.5

± 2.0

FE-2100SD軟磁材料直流磁性能測(cè)量裝置其他說明:

1、測(cè)量范圍:飽和磁感應(yīng)強(qiáng)度Bs:0.1T3T (實(shí)際與材料相關(guān),與設(shè)備沒有相關(guān)性);

2、剩磁Br0.05T2.5T(實(shí)際與材料相關(guān),與設(shè)備沒有相關(guān)性);

3、矯頑力Hc0.5A/m800A/m (實(shí)際與材料相關(guān),與設(shè)備沒有相關(guān)性);

4、*大磁導(dǎo)率um0.1mH/m10000mH/m(實(shí)際與材料相關(guān),與設(shè)備沒有相關(guān)性);

5、起始磁導(dǎo)率u00.01mH/m100mH/m(實(shí)際與材料相關(guān),與設(shè)備沒有相關(guān)性);

6*、設(shè)備滿足標(biāo)準(zhǔn)GB/T13012磁環(huán)超飽和條件下測(cè)試,Hs可以達(dá)到30kA/m直徑40mm圓環(huán));

7*、設(shè)備滿足高分辨率測(cè)量,坡莫合金樣品*小鎖定Hs測(cè)試磁滯回線可達(dá)5A/m

 

三、FE-2100SD軟磁材料直流磁性能測(cè)量裝置配置說明:

產(chǎn)品名稱

FE-2100SD

電源輸入

220V ± 10%, 5A, 50Hz

輸出功率

500VA

輸出電壓

-50V+50V

輸出電流

0.01mA 10A,準(zhǔn)確度:0.1%(當(dāng)前量程)

電流輸出量程

1mA, 2mA, 5mA, 10mA, 20mA, 50mA, 100mA, 200mA, 500mA,1A,2A, 5A, 10A 十三檔自動(dòng)量程。

電流穩(wěn)定性

優(yōu)于0.05%/min

磁通量程

0.25, 0.5, 1, 2, 5, 10, 20 mWb共七檔自動(dòng)量程

磁通分辨率

0.05 μWb (沖擊法), 0.1 μWb (掃描法)

磁通計(jì)控制漂移

1uWb/分鐘±0.05%(當(dāng)前量程)

AD/DA

AD16bit,DA16bit,采樣速率:

測(cè)試樣品范圍

0.2g20kg(非晶樣品)

螺線管

直徑50mm,長(zhǎng)度600mm,磁場(chǎng)范圍:0~32kA/m

測(cè)試感應(yīng)線圈

匝比(100100)適合測(cè)試導(dǎo)磁材料和匝比(30003000)適合測(cè)試弱磁材料

 

四、軟件功能Win7版)

1、自動(dòng)完成數(shù)據(jù)計(jì)算,自動(dòng)校正量程系數(shù)。

2、文件系統(tǒng)采用數(shù)據(jù)庫格式,可直接打印或輸出測(cè)試結(jié)果到 Excel表格中。

3、文件管理功能強(qiáng)大。具有自動(dòng)保存數(shù)據(jù),刪除數(shù)據(jù),**全部數(shù)據(jù)等功能。

4、數(shù)據(jù)文件中包含完整的采樣數(shù)據(jù)、樣品參數(shù)和儀器參數(shù),文件采用文本格式,可方便地輸入到其它軟件中。

5顯示I(t)、B(t)采樣波形和B(H)磁滯回線。

6可顯示B(H)磁滯回線簇、B(H)磁化曲線、μ(H)磁導(dǎo)率曲線。

7、支持各種型號(hào)的打印機(jī),測(cè)試報(bào)告與打印機(jī)紙張**匹配。

8、具有打印預(yù)覽的功能,可方便地調(diào)整測(cè)試報(bào)告的大小和邊距。

9、可直接打印測(cè)試報(bào)告,或?qū)y(cè)試報(bào)告生成JPG圖片文件。

10、可直接通過E-mail發(fā)送JPG圖片文件,或?qū)?/span>JPG圖片文件保存到磁盤。

11測(cè)試報(bào)告包含完整的曲線圖、測(cè)試結(jié)果、測(cè)試條件和樣品參數(shù)

12可采用中、英文格式,可方便添加用戶標(biāo)志和企業(yè)名稱。


附件二:               FE-2100SD軟磁材料直流自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)

                       

較國內(nèi)外同行提高部分:磁通計(jì)漂移控制技術(shù)優(yōu)越,為測(cè)試重復(fù)性和微型器件的測(cè)試提供保證;

測(cè)試軟件(中英文):自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)FE-2100測(cè)試軟件采用C#編寫,兼容Windows 2000/XP,滿足Win7

溯源準(zhǔn)確性:Permagraph C Magnet-Physik Dr.Steingroever Gmbh);

升級(jí)兼容性:華鳴儀器聯(lián)合中國計(jì)量科學(xué)研究院完成軟磁材料基本磁滯回線測(cè)量的開發(fā),滿足所有軟磁材料測(cè)試磁化曲線和磁滯回線均采用模擬沖擊法測(cè)量,保證測(cè)試數(shù)據(jù)d的重復(fù)性和唯壹性

 

一、測(cè)試界面:磁滯回線和磁化曲線測(cè)試

 

 

2、磁化曲線和磁導(dǎo)率曲線

 


二、重復(fù)性實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù)(沖擊波形周期0.5s

樣品編號(hào)

μi(k)

μm(k)

Bs(kGs)

Br(kGs)

Hc(A/m)

Hs(A/m)

FB35 2-3

0.3248

2.671

4.283

3.484

52.49

1200

FB35 2-3

0.3222

2.67

4.286

3.484

52.51

1200

FB35 2-3

0.3301

2.668

4.286

3.486

52.57

1200

FB35 2-3

0.3277

2.668

4.288

3.489

52.58

1200

FB35 2-3

0.3248

2.667

4.288

3.488

52.62

1200

FB35 2-3

0.3245

2.665

4.289

3.49

52.65

1201

FB35 2-3

0.3333

2.661

4.29

3.489

52.67

1200

FB35 2-3

0.325

2.657

4.288

3.489

52.69

1200

平均值

0.32655

2.665875

4.28725

3.487375

52.5975

1200.125

*大值

0.3333

2.671

4.29

3.49

52.69

1201

*小值

0.3222

2.657

4.283

3.484

52.49

1200

*大正偏%

2.067065

0.192245

0.064144

0.075272

0.175864

0.072909

*大負(fù)偏%

-1.33211

-0.33291

-0.09913

-0.09678

-0.20438

-0.01042

 

三、測(cè)試設(shè)備參考圖片

 

四、測(cè)試報(bào)告樣張:

 

 

附件三

                      不同沖擊時(shí)間寬度下材料的直流特性參數(shù)的測(cè)試分析

 

華鳴儀器是目前*一從事該項(xiàng)工作研究的企業(yè),并聯(lián)合中國計(jì)量科學(xué)研究院瞿老師提出“軟磁材料基本磁滯回線”的定義并就測(cè)試方法申報(bào)磚利,避免在磁化過程中渦流對(duì)磁化的作用,測(cè)量到的磁滯回線受到磁化頻率和磁場(chǎng)波形(諧波)的影響產(chǎn)生畸變,從而使測(cè)量結(jié)果失去唯壹性,*一性是磁性材料測(cè)量結(jié)果可比性和準(zhǔn)確度的基礎(chǔ)。后期將對(duì)相關(guān)設(shè)備進(jìn)行軟件升級(jí)。以后裝置中計(jì)算機(jī)將變?yōu)樽詫W(xué)習(xí)、自適應(yīng)材料建立沖擊波形,目前設(shè)備通過人員培訓(xùn)實(shí)現(xiàn)該功能。

 

案例說明(即使采用模擬沖擊法,不考慮材料的特性來確定沖擊時(shí)間也是不能保證測(cè)試數(shù)據(jù)的唯壹性的):

公司進(jìn)行了軟磁鐵氧體、非晶、精密合金、電工純鐵、硅鋼等樣品實(shí)驗(yàn),不同材料需要控制不同的時(shí)

間周期,才能滿足同時(shí)磁滯回線的唯壹性,同時(shí)保證Hc可靠性。

1、測(cè)試樣品材料:DT4電工純鐵;

2、樣品參數(shù):Le=112.2mm,Ae=20.32mm2,Ve=2.279cm3,We=17.75g

3、勵(lì)磁繞組:N1=99匝,感應(yīng)繞組N2=21匝;

4、鎖定Hs=6000A/m條件。

5、測(cè)試結(jié)果(采用沖擊法進(jìn)行磁滯回線測(cè)試)

編號(hào)

BsT

BrT

HcA/m

Hs(A/m)

時(shí)間(S

1

1.721

0.6767

97.22

6000

0.1

2

1.721

0.677

95.65

6001

0.2

3

1.721

0.6772

94.91

6000

0.3

4

1.721

0.677

93.94

6000

0.4

5

1.721

0.677

93.46

6000

0.5

6

1.721

0.678

93.03

6001

0.6

7

1.721

0.6768

92.93

6000

0.7

8

1.721

0.6767

92.7

6000

0.8

9

1.721

0.6768

92.59

6001

0.9

10

1.721

0.6768

92.09

6000

1.0

11

1.721

0.6775

91.99

5995

1.5

12

1.722

0.6778

91.92

6001

2.0

平均值

1.72108

0.67711

93.536

5999.92

 

*大值

1.722

0.678

97.22

6001

 

*小值

1.721

0.6767

91.92

5995

 

標(biāo)準(zhǔn)偏差

0.0005

0.00065

2.56

3

 

相對(duì)偏差

0.058%

0.192%

5.662%

0.1%

 

 

結(jié)論:

從測(cè)試結(jié)果中可以看出,DT4電工純鐵材料,只有當(dāng)沖擊時(shí)間達(dá)到1秒以后,材料的Hc變化才趨于緩慢,考慮設(shè)備測(cè)試重復(fù)性為0.3%,認(rèn)可測(cè)試的準(zhǔn)確性。從測(cè)試數(shù)據(jù)中同時(shí)可以看出,BsBr對(duì)沖擊時(shí)間是不敏感的,在只需要進(jìn)行對(duì)該兩項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試時(shí),可不考慮影響,加快測(cè)試速度,提高測(cè)試效率。

相關(guān)測(cè)試論文見《金屬功能材料》第五期,

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